ЛАУЭГРАММА
дифракционное
изображение неподвижного монокристалла, полученное с помощью рентгеновских
лучей. Назв. по имени М. Лауэ, предложившего метод, с помощью к-рого В.
Фридрихом и П. Книппингом была получена первая Л. (1912). Метод Лауэ состоит
в следующем: узкий пучок рентгеновских лучей непрерывного спектра подаётся
на неподвижный монокристалл, представляющий для рентгеновских лучей дифракционную
решётку. Дифракц. картина, создаваемая кристаллом, регистрируется на фотоплёнке,
помещённой за кристаллом. На Л., кроме центрального пятна, образованного
неотклонённым рентгеновским пучком, появляются пятна (рис. 1), число и
расположение к-рых зависит от типа кристалла и его ориентации относительно
пучка. Появление пятен на Л. можно пояснить схемой, приведённой на рис.
2. Пучок рентгеновских лучей падает на кристаллографич. плоскости и отражается
ими. Происходит дифракция рентгеновских лучей, причём направление отражённого
луча на рис. 2, в соответствии с Брэгга-Вулъфа условием, отвечает направлению
дифракц, максимума, вклад в к-рый вносят все атомы, расположенные на кристаллографич.
плоскости. Каждое семейство параллельных кристаллографич. плоскостей даёт
на Л. одно пятно.
Семейство кристаллографич. плоскостей
(зона, или пояс), параллельных к.-л. направлению (оси зоны) в пространстве,
даёт отражения вдоль направляющих конуса, ось к-рого совпадает с осью зоны.
Пятна на Л., создаваемые такими семействами, располагаются по сечению этого
конуса плоскостью фотоплёнки (зональным кривым; см. рис. 1.). Если первичный
пучок совпадает с осью симметрии кристалла, пятна Л. располагаются симметрично
относительно центр, пятна в соответствии с симметрией данного направления
в кристалле (рис. 3), а число пятен тем больше, чем меньше расстояние между
атомами вдоль оси зоны.
Таким образом, Л. позволяет определить
направление осей симметрии кристалла, т. е. осуществить его "ориентировку".
(Это особенно важно для неогранённых кристаллов.) Кроме того, по распределению
интенсивности в пятне можно судить о степени совершенства кристалла и определять
его нек-рые дефекты: блочность, мозаичность, присутствие внутр. деформаций
и др. (см. Астеризм). Л. содержит информацию о симметрии кристалла, но
однозначно установить по Л. принадлежность кристалла к одной из 32 групп
симметрии без дополнит, данных невозможно (см. Рентгеновский структурный
анализ).
Когда размеры монокристалла слишком
велики, чтобы сквозь него могло пройти излучение на фотоплёнке, помещённой
перед кристаллом, регистрируют рентгеновские лучи, отражённые гранями кристалла.
Полученное т. о. изображение, наз. эпиграммой, служит для решения тех же
задач, что и Л. А. В. Колпаков.
Рис. 1. Лауэграмма произвольно уставовленного
монокристалла берилла. (Тонкими линиями показаны зональные кри-- вые.)
Рис. 2. Схема получения лауэграммы.
OS - первичный пучок рентгеновских лучей; К - монокристалл; ММ' - направление
кристаллографической плоскости; KL - отражённый луч; РР' - фотоплёнка.
Рис. 3. Лауэграмма ориентированного
монокристалла берилла. Первичный пучок рентгеновских лучей направлен вдоль
оси симметрии 2-го порядка. Монокристалл состоит из двух несколько разориентиро-
ва.шых блоков, поэтому некоторые пятна двойные.
А Б В Г Д Е Ё Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я