РЕНТГЕНОГРАММА
зарегистрированное
на светочувствит. материале (фотоплёнке, фотопластинке) изображение объекта,
возникающее в результате взаимодействия рентгеновских лучей с веществом.
При освещении объекта рентгеновскими лучами может происходить поглощение,
отражение или дифракция рентгеновских лучей. Пространственное распределение
их интенсивности после взаимодействия и фиксируется на Р.
Р., дающие "теневое" изображение объекта,
получаются вследствие неодинакового поглощения рентгеновских лучей разными
участками исследуемого объекта (абсорбционные Р.) и используются для исследования
биологических объектов (в частности, в медицине; см. Рентгенография),
для
обнаружения различных дефектов в материалах и конструкциях (см.
Дефектоскопия),
для
выяснения неоднородностей состава неорганических материалов (проекционная
рентгеновская
микроскопия).
Дифракционные Р., получающиеся в результате
дифракционного рассеяния рентгеновских лучей кристаллич. образцами, используются
для решения задач рентгеновского структурного анализа. В зависимости
от типа исследуемого вещества (поли- или монокристаллы), характера используемого
рентгеновского излучения (непрерывного спектра или монохроматическое),
а также от геометрич. условий съёмки дифракционные Р. носят различные названия:
дебаеграммы, лауэграммы, Р. вращения (качания) - дифракционные картины,
зарегистрированные при вращении или качании кристалла во время съёмки;
вейссенбергограммы, кфорограммы - Р., получаемые при синхронном вращении
монокристалла и перемещении фотоплёнки; косселеграммы, получаемые в широкорасходящемся
пучке монохроматич. рентгеновского излучения; рентгеновские топограммы
(см. Рентгеновская топография).
Р. малоуглового рассеяния, образующиеся
вблизи первичного рентгеновского пучка, возникают при дифракции рентгеновских
лучей в кристаллических телах с большим периодом решётки, а также в результате
диффузного рассеяния на микронеоднородностях исследуемого вещества.
Р., фиксирующие распределение интенсивности
рентгеновского излучения, испытавшего полное внешнее отражение от поверхности
исследуемого тела, используются в рентгеновской рефлектометрии для оценки
физ. и геометрич. параметров поверхностных слоев и тонких плёнок.
Съёмка Р. осуществляется в рентгеновских
камерах на различные светочувствит. материалы, выбор к-рых зависит
от целей исследования. Чаще всего Р. не требуют дальнейшего оптич. увеличения,
н поэтому их съёмка производится на рентгеновскую или поляройдную плёнку
с невысоким разрешением. Дифракционные и абсорбционные микрорентгенограммы
и рентгеновские топограммы, нуждающиеся в последующем оптическом увеличении,
снимают на мелкозернистые фотоплёнки или пластинки, имеющие высокое разрешение.
Лит.: Дмоховский В. В., Основы рентгенотехники,
М., 1960; Трапезников А. К., Рентгено-дефектоскопия, М., 1948; Г и н ь
е А., Рентгенография кристаллов. Теория и практика, пер. с франц., М.,
1961; Т е и л о р А., Рентгеновская металлография, пер. с англ., М., 1965;
У м а н-с к и и Я. С., Рентгенография металлов, М., 1967; Ровинский Б.
М., Синайский В. М., Сиденко В. И., Рентгеновская рефлектометрия, "Аппаратура
и методы рентгеновского анализа", 1970, в. 7.
Е. П. Костюкова.
А Б В Г Д Е Ё Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я